Horiba se renforce en inspection des semiconducteurs composés
Le Japonais a repris le spécialiste des systèmes d’inspection EtaMax, afin d’accroître le rendement et améliorer le contrôle de la qualité des wafers de semiconducteurs composés.
La demande croissante de centres de données, stimulée par l’expansion mondiale de l’IA, et de véhicules électriques accélère l’adoption des semiconducteurs composés, parmi lesquels figurent les semiconducteurs de puissance de nouvelle génération type carbure de silicium (SiC) ou nitrure de gallium (GaN).
Bien que ces semiconducteurs composés se distinguent par des performances et une durabilité élevées, la perte de rendement dans le procédé de fabrication due aux défauts des tranches reste un défi important, ce qui crée une forte demande de solutions d’inspection précises et efficaces.
© EtaMax
Le groupe japonais Horiba, via sa filiale Horiba STEC Korea responsable des activités du groupe dans le domaine des semiconducteurs en Corée du Sud, vient d’annoncer avoir acquis le Coréen EtaMax pour un montant non dévoilé. L’intégration des deux offres contribuera à accroître le rendement et à améliorer le contrôle de la qualité des wafers de semiconducteurs composés.
Créé en 2008 et situé à Suwon City (Corée du Sud), EtaMax, qui emploie 40 personnes et dont le CEO est Jung Hyundon, développe principalement des systèmes d’inspection de wafers, basés sur l’analyse par photoluminescence, notamment pour l’évaluation de l’uniformité et l’identification des types de défauts minimes dans les wafers de semiconducteurs composés.
Ce rachat permettra au Sud-Coréen, en plus de développer ses activités dans le monde, d’accélérer le développement de nouveaux produits et de proposer des solutions associant ses technologies logicielles avec celles d’Horiba, telles que la spectroscopie Raman et l’ellipsométrie.
