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L’outil réduit le temps de validation des technologies SiC et GaN

L’outil réduit le temps de validation des technologies SiC et GaN

Tektronix propose une solution de test à double impulsion à large bande pour ses oscilloscopes numériques MSO4, MSO5 et MSO6.

Les nouveaux dispositifs de commutation à large bande interdite, tels que les Mosfet en carbure de silicium (SiC) et en nitrure de gallium (GaN), permettent des avancées significatives dans les domaines des véhicules électriques, de l’énergie solaire et des commandes industrielles.

Pour permettre aux concepteurs de convertisseurs de puissance de nouvelle génération d’optimiser leurs designs d’une manière rapide et sure, l’Américain Tektronix vient d’ajouter le test à double impulsion à large bande à ses oscilloscopes numériques MSO4, MSO5 et MSO6, via les options respectives 4-WBG-DPT, 5-WBG-DPT et 6-WBG-DPT.

Ces options apportent plusieurs fonctionnalités inédites telles qu’une technique de désalignement automatique des larges bandes et des tracés de synchronisation de récupération inverse. Le test à double impulsion est une technique standard pour mesurer des paramètres clés lors de la mise sous tension, de la mise hors tension et de la récupération inverse.

La technique de désalignement développé par Tektronix élimine le besoin de recâblage, et peut même être réalisée après que les mesures de double impulsion ont été prises. Pour simuler les effets des retards dans l’installation de test, l’option logicielle génère une forme d’onde d’alignement. L’ingénieur n’a alors plus qu’à ajuster quelques paramètres pour faire correspondre ladite forme d’onde à celle mesurée, le logiciel corrigeant les différences de retard.

Tektronix affirme que ce nouveau processus permet de réduire le temps de désalignement à seulement 5 à 10 min, au lieu d’une heure ou plus. Cela permet d’effectuer des mesures rapides et précises de la charge de sortie (QOSS ; voir photographie ci-dessous) – un paramètre important pour les convertisseurs de puissance fonctionnant à des températures très variées – à différentes températures de jonction et, donc, de mieux comprendre les effets de la capacité de sortie des dispositifs.

Avec les options x-WBG-DPT, les tracés de synchronisation de récupération inverse permettent aux ingénieurs de voir facilement, sur un seul écran, les détails de la récupération inverse pour plusieurs impulsions superposées. Les utilisateurs peuvent configurer les mesures, effectuées conformément aux normes Jedec et IEC, dans le logiciel afin d’obtenir des résultats sur chaque première, ou deuxième, impulsion, ou sur toutes les impulsions.

Cette approche unique de la représentation graphique de la récupération inverse permet d’obtenir plusieurs ensembles d’impulsions doubles, ainsi que des résultats visuels et de mesure pour chaque ensemble. Il est également possible de zoomer facilement sur la région de récupération inverse et même de déboguer les paramètres de récupération inverse du système.

« Notre solution WBG-DPT permettra un débogage simplifié, des mesures répétables et une courbe d’apprentissage plus rapide. L’automatisation des tests réduit leur durée et les erreurs de re-test, ce qui permet aux industriels de respecter les délais de leurs projets et de leurs plans de mise sur le marché », affirme Daryl Ellis, directeur général de l’offre Mainstream de Tektronix.

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