Avec SiConic d’Advantest, les ingénieurs de conception peuvent désormais utiliser des techniques connues de pré-silicium en étendant leur couverture fonctionnelle en post-silicium.
Advantest a dévoilé le le microscope électronique à balayage pour la visualisation des défauts (DR-SEM) E5620 destiné à l’examen et la classification des défauts de très petites tailles sur les photomasques actuels et les photomasques UV extrême de prochaine génération.
Le Japonais Advantest, principal fournisseur d’équipements de test de semiconducteurs, a conclu un accord pour acquérir la société italienne CREA – Collaudi Elettronici Automatizzati-. Fondé en 1992, CREA est un fournisseur d’équipements de test de semiconducteurs de puissance, notamment pour les composants SiC et GaN.
Advantest et Synopsys permettent l’analyse de données en temps réel dans SiliconDash du second avec la nouvelle solution ACS Nexus du premier.
Le Japonais Advantest, l’un des principaux fabricants d’équipements de test pour semiconducteurs, et STMicroelectronics annoncent le développement conjoint d’un système de test final avancé entièrement automatisé, qui permet d’améliorer l’efficacité et la qualité des équipements utilisés dans les activités de test et de mise en boîtier des circuits intégrés.
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