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Étiquette : Advantest

MEB pour la visualisation des défauts de photomasques

Advantest a dévoilé le le microscope électronique à balayage pour la visualisation des défauts (DR-SEM) E5620 destiné à l’examen et la classification des défauts de très petites tailles sur les photomasques actuels et les photomasques UV extrême de prochaine génération.

STMicroelectronics et Advantest collaborent au développement d’une cellule de test automatisée

Le Japonais Advantest, l’un des principaux fabricants d’équipements de test pour semiconducteurs, et STMicroelectronics annoncent le développement conjoint d’un système de test final avancé entièrement automatisé, qui permet d’améliorer l’efficacité et la qualité des équipements utilisés dans les activités de test et de mise en boîtier des circuits intégrés.

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