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Les données des testeurs de semi-conducteurs sont accessibles en temps réel

Les données des testeurs de semi-conducteurs sont accessibles en temps réel

Advantest et Synopsys permettent l’analyse de données en temps réel dans SiliconDash du second avec la nouvelle solution ACS Nexus du premier.

L’industrie des semi-conducteurs doit atteindre à la fois la meilleure qualité possible et des rendements maximaux stables aussi rapidement que possible. Des technologies telles que la 5G, le packaging hétérogène 2,5D/3D et la conception de circuits intégrés, ainsi que la diversification croissante des circuits intégrés spécifiques nécessitent des approches de plus en plus innovantes et pilotées par logiciel pour le test des semi-conducteurs.

Le Japonais Advantest et l’Américain Synopsys permettent désormais l’analyse de données en temps réel dans SiliconDash du second avec la nouvelle solution Advantest Cloud Solutions (ACS) Nexus du premier. Cette dernière est en fait une infrastructure de streaming de données en temps réel, permettant d’accéder à des flux de données agrégés de plusieurs cellules de test.

Grâce à une interface logicielle centralisée disponible sur site, utilisateurs finaux et partenaires peuvent désormais collecter les données de test de manière sécurisée, fiable et standardisée, avec un contrôle précis des autorisations par les propriétaires des données.

En étendant ainsi les capacités d’enregistrement de données existantes, les utilisateurs seront en mesure d’augmenter considérablement leurs capacités d’analyse avancées, ce qui leur permettra d’atteindre rapidement la qualité souhaitée avec le rendement le plus élevé possible. Les personnels de salle d’essais, eux, verront la sécurité et la fiabilité des opérations s’améliorer, tout comme l’efficacité globale des équipements.

La solution ACS Nexus est d’ores et déjà disponible sur les plates-formes de test automatisé pour semi-conducteurs V93000 (voir photographie) et T2000, et sera étendue à toutes les autres plates-formes d’Advantest au cours de l’année prochaine.

Pour retrouver toutes nos actualités consacrées à la mesure industrielle, cliquez sur ce lien.

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