Yokogawa Electric améliore encore son réflectomètre optique
Parmi les améliorations apportées par le Japonais, l’AQ7420 réduit davantage les bruits parasites, mesure simultanément la réflexion arrière et la perte d’insertion et accélère le temps de mesure.
En menant des recherches sur la photonique du silicium et en produisant des connecteurs pour fibres optiques, le Japonais Yokogawa Test & Measurement a pris conscience de plusieurs demandes émergentes qui ne pouvaient pas être satisfaites par les solutions existant sur le marché.
Pour répondre à ces exigences, le fabricant a développé le réflectomètre AQ7420. Utilisant la réflectométrie optique à faible cohérence (OLCR), les modèles à une (1 310 nm) et à deux longueurs d’onde (1 310 et 1 550 nm) affichent une résolution spatiale de 40 µm et une étendue de mesure de la réflexion arrière de -14,7 à -85 dB (-50 à -100 dB en mode Haute sensibilité), sans bruit parasite.
Avec les appareils conventionnels basés sur la technologie OLCR/OFDR (réflectomètre optique de domaine fréquentiel), les bruits parasites sont souvent observables dans des zones où il n’y a pas de réflexion réelle (en fonction des caractéristiques de l’équipement), ce qui conduit à des erreurs d’appréciation si l’utilisateur ne dispose pas des connaissances ad hoc. L’AQ7420 permet de réduire considérablement les bruits parasites, facilitant ainsi l’analyse.
Contrairement aux instruments traditionnels souvent incapables d’inspecter la quantité de réflexion arrière en raison de la faible précision de mesure de l’axe vertical (quantité de niveau de réflexion), le nouveau réfractomètre assure des mesures avec une incertitude de ±3 dB. En tirant parti de la tête de capteur optique optionnelle, les utilisateurs peuvent également mesurer simultanément la perte d’insertion avec une incertitude de ±0,02 dB.
Yokogawa Test & Measurement met en avant l’accélération du temps temps de mesure et l’amélioration de la stabilité des formes d’onde mesurées. Par rapport au produit de la génération précédente (AQ7410), le temps de mesure de l’AQ7420 est en effet environ 50 % plus rapide, soit environ 6 s contre 12 s auparavant.
De par ces performances, le nouveau réflectomètre est une solution idéale pour l’analyse de la structure interne (quantité et emplacement des réflexions) des connecteurs et modules optiques et la visualisation des micro-fissures à l’intérieur des connecteurs optiques, défauts qui ne sont pas visibles avec les techniques de mesure des pertes.
