Teradyne dévoile un testeur de cartes électroniques pour l’ère de l’IA

Omnyx intègre au sein d’une plateforme unique la capacité d’effectuer des tests structurels, paramétriques, d’interconnexion à haute vitesse et fonctionnels, en s’attaquant aux principales problématiques de production pour réduire les défauts non détectés et améliorer la qualité des assemblages électroniques.

Teradyne, fournisseur de systèmes de test automatique pour l’électronique et la robotique avancée, a récemment dévoilé Omnyx, une plateforme de test dédiée au contrôle en production de cartes électroniques et de sous-ensembles, conçue pour répondre aux besoins spécifiques des systèmes électroniques utilisés dans les applications d’intelligence artificielle et de centres de données.

Selon Teradyne, Omnyx établit un nouveau standard pour les systèmes de test automatique de cartes en intégrant au sein d’une plateforme unique la capacité d’effectuer des tests structurels, paramétriques, d’interconnexion à haute vitesse et fonctionnels, en s’attaquant aux principales problématiques de production pour réduire les défauts non détectés et améliorer la qualité des assemblages électroniques.

© Teradyne

Teradyne estime que les produits de nouvelle génération pour l’IA et les centres de données mettent en difficulté les testeurs in-circuit (ICT) traditionnels, axés sur les défauts structurels et paramétriques qui surviennent lors de l’assemblage des composants. Face à la complexité et à la valeur croissantes des cartes électroniques utilisées dans les centres de données, les fabricants ont par conséquent besoin d’une plateforme de test complète permettant d’identifier et de résoudre de nouveaux problèmes d’intégrité du signal et des défauts opérationnels avant l’assemblage final.

Omnyx intègre ainsi des tests d’interconnexion à haute vitesse et des tests en mode opérationnel, pilotés par logiciel, offrant une couverture des défauts à vitesse réelle (at-speed) et des défauts opérationnels, généralement détectables uniquement lors des phases de test fonctionnel. Grâce à cette approche, les fabricants peuvent améliorer la qualité des composants et des sous-ensembles en identifiant en amont des défauts coûteux à détecter en aval du processus de production. Avec à la clé, un meilleur rendement et une meilleure qualité en fin de ligne, afin de satisfaire aux exigences strictes des centres de données modernes à hautes performances.

« Omnyx représente une avancée majeure dans le test des cartes électroniques, en offrant tous les outils nécessaires pour répondre aux exigences du matériel moderne pour l’IA et les centres de données, assure Mark Kahwati, responsable de la division Production Board Test de Teradyne. Cette plateforme améliore non seulement la qualité du produit, mais accélère également le time-to-market, un facteur crucial dans le contexte dynamique actuel. »