Anritsu présente l’analyseur de réseau vectoriel (VNA, Vector Network Analyzer) à large bande VectorStar ME7838G, qu’il considère comme le premier VNA du marché capable d’effectuer des mesures avec un unique balayage sur la bande de 70 kHz à 220 GHz.

En offrant une telle couverture de fréquence jusque-là inégalée, le nouveau VNA VectorStar permet aux ingénieurs de caractériser avec davantage de précision et d’efficacité les composants sur une bande de fréquences bien plus large, afin de fournir une modélisation précise des composants, tout en optimisant les chances de simulations précises et en diminuant les temps de développement.

Anritsu peut offrir la plus vaste couverture de fréquences avec un balayage unique pour une modélisation des composants améliorée, parce que le VNA VectorStar intègre des modules millimétriques utilisant la technologie NLTL (Non-Linear Transmission Line), brevetée par Anritsu, offrant une linéarité inédite. Une conception innovante permet en effet de connecter directement une pointe de test allant jusqu’à 220 GHz au module millimétrique pour des mesures sur wafer précises et stables, sans rencontrer les limites des connecteurs coaxiaux aux fréquences inférieures à 1 Téra Hertz.

Le ME7838G 220 GHz tire profit de la capacité de la plateforme à large bande VectorStar à aller au-delà des limites traditionnelles dans un balayage unique, sans avoir besoin de modifier à chaque fois la station de tests pour wafers de silicium, depuis la fréquence de 110 GHz jusqu’à des bandes de guide d’onde plus élevées. Grâce à cette conception, les ingénieurs peuvent mesurer un large éventail de circuits sur le même wafer, sans avoir à passer d’un VNA micro-ondes avec connecteurs coaxiaux vers un VNA travaillant dans la bande d’ondes millimétriques avec des connecteurs coaxiaux ou vers un VNA en bande d’ondes millimétriques travaillant avec guide d’onde. Le système permet de réduire les temps de développement des wafers en silicium, améliorant la précision des mesures sur les composants large bande en permettant d’éviter la concaténation de guide d’onde. Il offre un meilleur rapport coût/efficacité pour les stations de tests des wafers en silicium en évitant d’avoir à reconfigurer sans cesse le VNA.

Le ME7838G répond aux besoins du marché pour réaliser des mesures sur wafer qui couvrent les fréquences élevées de la bande d’ondes millimétriques pour une caractérisation plus précise des composants. Grâce à ce système à large bande basé sur la plateforme VectorStar, les ingénieurs ont plus confiance dans les systèmes qu’ils développent car ils peuvent caractériser des composants depuis un niveau proche de DC jusqu’à des fréquences bien supérieures à la fréquence de fonctionnement, le tout pour une modélisation plus précise.

Fabricant : Anritsu

Référence : ME7838G